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太赫兹衰减全反射测量模块
产品简介
太赫兹衰减全反射测试，专门用于测试对入射的太赫兹光谱具有强烈吸收的样品。太赫兹波段的衰减全反射模块核心部件是一块高阻硅（HRSi）棱镜，HRSi在太赫兹波段（0.1-4THz）具有平坦且很高的折射率，在0.1-4THz，HRSi折射率约为3.416。
如下图所示，太赫兹光束经过高折射率的高阻硅(HRSi)棱镜，入射到小折射率的样品上，在样品与高阻硅(HRSi)界面全反射，此过程中，太赫兹(THz)光束会在样品中有一定的穿透深度，即全反射过程中产生的倏逝波会在样品中传播一段距离并最终携带样品的信息反射出来。通过这种方法可以测试对太赫兹波吸收强烈、不能用常规透射或反射方法测试的样品（如生物样品、细胞蛋白质等）。
太赫兹衰减全反射测量模块参数
高阻硅折射率 | 3.416 |
样品池尺寸 | 40mm*40mm |
样品折射率要求 | < 2.5 |
THz光束入射角度 | 51.6° |
时域峰值延迟时间 | ~370ps |
太赫兹衰减全反射模块用于太赫兹时域光谱仪中
太赫兹衰减全反射模块技术指标
1，全反射棱镜抛光面表面精度(scr/dig)：80/50；
2，全反射棱镜角度公差：±30 arc.min；
3、全反射光束与样品接触面积：>20mm ；
4、全反射次数：单次；
5、可测试静态水溶液，生物组织样品等对太赫兹波具有强烈吸收的样品。