基于1um飞秒激光器的强场太赫兹源

1.STFT(Swiss THz Flat Top Bullet Source)——瑞士太赫兹强场脉冲辐射源

该太赫兹辐射源在整个工作频段内,输出功率与峰值的偏差始终控制在 10 dB 以内,不会出现单频点尖峰凸起、两侧功率快速衰减的现象。其STFT平顶覆盖 1.0‑4.6 THz,带宽达 3.6 THz,对应 2.2 个倍频程,且全部能量集中于单个脉冲输出。

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实测STFT平顶源频谱

A:直接时域采集得到的入射电场波形。B:同一脉冲分别在干燥空气与潮湿空气中测得的波形,已归一至同一峰值高度。C:平顶频段本身——即两处标记点之间的频带范围。D:全频段测量结果,包含探测器自身噪声基底。绿色曲线代表干燥光路;橙色曲线代表普通室内空气。水蒸气会吸收太赫兹波,因此光路通常需要吹扫干燥气体。

STFT强场太赫兹源频谱:1-4.6THz,10 dB 带宽,2.2 倍频程

峰值场强:>10MV/cm,1号测点实测

单脉冲能量:4µJ,泵浦能量≈0.7 mJ,转换效率 0.6‑0.9%

聚焦光斑尺寸:0.14mm,1号测点,最佳聚焦点

STFT 强场太赫兹源的重要意义。绝大多数太赫兹辐射源仅在单一频率处出现功率尖峰,随后向两侧衰减。因此测量信号仅在峰值频率处信噪比高,其余频段噪声显著。而平顶源在整个带宽范围内均可提供有效信号强度:只需单次扫描,便可获得均匀一致的数据质量,不存在优势频点。并且当电场强度高于10MV/cm时,脉冲不再只是探测样品,而是能够驱动样品产生响应。


2.四种配置

泵浦光和探测光均可选用太赫兹脉冲或激光。光学平台光路经过布局设计,无需重新搭建系统,即可实现全部四种组合配置。不同配置决定了所能研究的物理过程:激光可激发跨带隙电子,而太赫兹电场则作用于慢弛豫体系——载流子、声子、自旋与化学键。

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两个聚焦位置,可互换安装

无论采用哪种配置运行,光束都会汇聚于两个焦点之一。下方每一帧均为相机实拍图像:分别给出每个位置下的太赫兹光束图像、激光光束图像,以及二者的叠加图像。

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位置1—紧聚焦,光斑最小,场强最高0.14 mm

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位置2—样品位置,样品周边预留空间更大0.26 mm


3.光场测量方法

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脉冲透过金刚石

强太赫兹脉冲短暂畸变金刚石晶体,由峰值幅值可直接测得光场强度,无需功率计。

该方法已通过另一套光源上完全独立的校准实验进行核验,二者结果偏差约在 8 % 以内。

日常运行条件下的峰值光场强度:> 10 MV/cm

保证最低场强:8 MV/cm

作为参照,10 MV/cm的场强与束缚电子的原子内场强处于同一量级;这便是该脉冲能够驱动材料,而非仅仅探测材料的原因。


4.观测电子的导通跃迁

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半导体转为导电态

激光闪光释放样品内的电子;经过一段可控的时间延迟后,太赫兹脉冲抵达,此时样品几乎呈不透明状态。两次扫描,采用两种不同步长,所得结果一致。

扫描两束脉冲之间的延时,便可将横轴转化为时间时钟。随着电子出现,信号衰减超过 90%;信号陡沿的宽度小于1ps。该速度足以追踪切换过程本身,而不仅仅是其后续效应。

导通转变时产生的信号变化:> 90 %

时间分辨率:≈ 1 ps

最小延时步长:0.015 ps


5.穿透成像

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一张太赫兹图像

一个 3 mm孔洞与一片金属刀片,直接由太赫兹相机成像。单次短曝光,无任何校正处理。

太赫兹光可穿透塑料、纸张、陶瓷与衣物,但遇到金属和水就会被阻隔。这一特性使其能够在无需拆开、不损伤样品的前提下,对密封包装、涂层以及复合材料开展内部检测。STFT的平顶窗函数在此处同样发挥作用:频段内所有频率分量均可输出有效信号,因此不会仅在某一优选频点处获得对比度,远离该频点时图像对比度也不会骤降。

相机:实时

物镜:f/0.7

图示特征尺寸:3 mm


6.直观可见

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数值为本系统光路在空气中调试测得;光路吹扫可提升该数值。完整测量记录、测试方法与不确定度可按需索取。


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